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2021年11月15日 (月)

タクトスイッチを押してみる …何万回も その3

タクトスイッチを押してみる …何万回も その2 の続き。
スケッチの変更概要
 ・A/DのVrefを5Vから内蔵1.1Vに変更。
  10bit A/D 0~1023で0~6kΩの接触抵抗を見る
  ことになる。 1LSBで6Ωくらい。

 ・リングバッファへの記録を、A/D値が0と1は飛ばして、
  2以上の時にサイクル数とともに記録。

 ・リングバッファは「160データ」。
  オフ検出まで記録。

「その2」で試したスイッチのまま(26万回開閉)、取り替えずに
試運転した結果がこれ。 (A/D値2以上を記録。 0と1は飛ばし)
開始してから1万8千515サイクルまで、A/D値は0か1。

#  cyc A/D
  18516  47
  18981  63
  19596 159
  19617  63
  19696 687
  19771 1023 ←PC1デジタル入力オフ検出で停止

接触抵抗が増大した値が連続し出すのではなく、パラパラと
大きなA/D値(スイッチの接触状態を示す)が出ています。

接触不良発生でいきなり使えなくなるのではなく、
「徐々に反応が悪くなる」という状態が見えます。

今回のテスト、負荷はマイコンの内蔵プルアップ抵抗。
電流はわずか。
少々接触抵抗が増大しても「オン」を検出してほしいところ
なんですが・・・

オン・オフのタイミングはこんな具合。
A/Dの平均回数64 = 50mSを1単位に処理しています。

25_20211115090401
1回の「オフ検出」で有無を言わせず「試験を停止」するん
じゃなく、何回かの「オフ検出」を待つ方が良いかな?

・今回のスケッチ:ダウンロード - sw_life_test2.txt

 

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※続き
タクトスイッチを押してみる …何万回も その4
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投稿: 居酒屋ガレージ店主(JH3DBO) | 2021年11月17日 (水) 09時16分

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