タクトスイッチを押してみる …何万回も その3

タクトスイッチを押してみる　…何万回も その2 の続き。
スケッチの変更概要
　・A/DのVrefを5Vから内蔵1.1Vに変更。
　　10bit A/D　0～1023で0～6kΩの接触抵抗を見る
　　ことになる。　1LSBで6Ωくらい。

　・リングバッファへの記録を、A/D値が0と1は飛ばして、
　　2以上の時にサイクル数とともに記録。

　・リングバッファは「160データ」。
　　オフ検出まで記録。

「その2」で試したスイッチのまま(26万回開閉)、取り替えずに
試運転した結果がこれ。　(A/D値2以上を記録。 0と1は飛ばし)
開始してから1万8千515サイクルまで、A/D値は0か1。

#　　cyc　A/D
　 18516　 47
　 18981　 63
　 19596　159
　 19617　 63
　 19696　687
　 19771 1023 ←PC1デジタル入力オフ検出で停止

接触抵抗が増大した値が連続し出すのではなく、パラパラと
大きなA/D値(スイッチの接触状態を示す)が出ています。

接触不良発生でいきなり使えなくなるのではなく、
「徐々に反応が悪くなる」という状態が見えます。

今回のテスト、負荷はマイコンの内蔵プルアップ抵抗。
電流はわずか。
少々接触抵抗が増大しても「オン」を検出してほしいところ
なんですが・・・

オン・オフのタイミングはこんな具合。
A/Dの平均回数64 = 50mSを1単位に処理しています。

1回の「オフ検出」で有無を言わせず「試験を停止」するん
じゃなく、何回かの「オフ検出」を待つ方が良いかな？

・今回のスケッチ：ダウンロード - sw_life_test2.txt